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曲軸、盤(pán)類(lèi)和環(huán)類(lèi)鍛件探傷
曲軸的探測 曲軸的探測以直探頭為主,一般在主軸頸、曲柄銷(xiāo)及扇板上進(jìn)行。必要時(shí),可用斜探頭做輔助探測,如下圖1,用斜探頭探測近軸頸過(guò)度區圓角處或軸鍵槽處的裂紋時(shí),應注意選擇聲束的入射方向,如圖2。探測時(shí)還應注意油孔反射波與缺陷波的區別。
(二)盤(pán)類(lèi)鍛件的探傷 盤(pán)類(lèi)鍛件(如汽輪機葉輪)是在高溫、高壓、高速下工作的,不允許存在白點(diǎn)、裂紋等缺陷。需探測的葉輪表面光潔度不應低于?6,超聲波探傷儀探測部位應以缺陷集中且承受應力最大的輪殼為主。葉輪中的缺陷多垂直于鍛壓方向,故應以鍛壓方向垂直的端面作為主要探測面。探測時(shí),以直探頭為主。直探頭探測能有效的發(fā)現平行于探測面的缺陷。同時(shí),可用斜探頭(或直探頭在葉輪外圓周上)探測與葉輪端面垂直或傾斜的缺陷,如下圖所示。
使用過(guò)的葉輪,主要是發(fā)現疲勞裂紋。因此探傷儀探測區域應選擇承受應力最大的部位,如輪殼,鍵槽,螺紋孔以及輪面與輪緣的過(guò)渡區域的截面等,如下圖示,用斜探頭在輪殼外圓上探測時(shí),可發(fā)現輪殼內的徑向缺陷和鍵槽處的缺陷。當探頭主聲束射至鍵槽時(shí),則出現強烈的鍵槽反射波,找到鍵槽反射波后,將探頭繼續向前移動(dòng),若在鍵槽反射波的附近出現反射波時(shí),則鍵槽處存在裂紋。
環(huán)形鍛件(如發(fā)電機護環(huán))中的缺陷具有各種方向,探測時(shí),應由不通過(guò)方向分別用直探頭和斜探頭進(jìn)行。用直探頭在護環(huán)的外圓表面進(jìn)行周向探測,以發(fā)現護環(huán)內大部分缺陷,必要時(shí),還應在端面進(jìn)行探測。為發(fā)現裂紋,可用斜探頭(30°,40°)從護環(huán)外圓表面作周向和軸向探測,如下圖所示,使用過(guò)的護環(huán),主要用斜探頭探測其內外表面的裂紋,對通風(fēng)孔邊緣的裂紋尚可用表面波探測。
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