超聲波探傷各種缺陷的波形特征

  超聲波探傷儀對部件探傷，不同性質(zhì)的缺陷，其缺陷波形的特征亦不相同，下面簡(jiǎn)單介紹下。

  點(diǎn)狀非金屬夾雜物 缺陷波波峰較圓，而波幅較低且遲鈍，當超聲波探傷儀探頭位置移動(dòng)不大時(shí)，缺陷波很快消失。

  聚積非金屬夾雜物 缺陷波呈連串的波峰，波幅一般較弱，其波形間有一二個(gè)較高的缺陷波。當移動(dòng)探頭時(shí)，缺陷波在一定寬度范圍內變化，波峰此起彼落，波形顯得混淆雜亂、遲鈍、幾個(gè)缺陷波峰值相混為一，呈圓球狀或鋸齒狀，左右滾動(dòng)。探傷時(shí)缺陷分部越密則波形越亂。當降低探測靈敏度時(shí)，只有個(gè)別較高的缺陷波出現，而波幅下降，底波無(wú)明顯的變化。

  疏松 疏松對聲波有吸收和散射作用，故使底波明顯降低甚至消失，疏松嚴重時(shí)，無(wú)缺陷波，當探頭移動(dòng)時(shí)，間或出現波峰很低的蠕動(dòng)波形。當提高探測靈敏度時(shí)，會(huì )出現一些微弱而雜亂的波形，但無(wú)底波。

  縮孔 缺陷波高大，在缺陷波的前后尚有些微弱的反射波，當缺陷較大時(shí)，底波嚴重衰減或消失，多個(gè)方向探測均能得到缺陷波。

  白點(diǎn) 缺陷波呈叢集狀，數個(gè)波同時(shí)呈現，波峰清晰、尖銳有力，有重復呈現的傾向，當探頭移動(dòng)時(shí)，缺陷波變化迅速而敏感，若降低探測林敏度時(shí)，缺陷波仍然很高。白點(diǎn)面積較大或密集時(shí)，底波顯著(zhù)降低，如從各個(gè)方向探測均能得到缺陷波。

  中心鍛造裂紋 探頭移動(dòng)時(shí)，缺陷波幅變化很大（有時(shí)很強有時(shí)很弱），且在熒光屏上移動(dòng)，底波往往消失。

  殘余縮孔性裂紋 缺陷波幅強，常出現于工件中部，沿軸向探測時(shí)，缺陷波連續不斷的出現，缺陷嚴重時(shí)，底波顯著(zhù)降低或消失。

  夾雜性裂紋 這種缺陷和夾雜物混雜在一起，探測時(shí)難以和夾雜物波形區別，當夾雜物嚴重或存在較大的單個(gè)夾雜物時(shí)，應考慮這種缺陷產(chǎn)生的可能。

  氣孔 缺陷波形尖銳、陡峭、波根清晰，當探頭繞缺陷移動(dòng)時(shí)，均有缺陷波出現，當超聲波探頭沿焊縫水平轉動(dòng)時(shí)，單個(gè)氣孔及針狀氣孔的缺陷波很快消失，連續氣孔則連續不斷的出現缺陷波，密集氣孔氣孔則出現數個(gè)此起彼落的缺陷波。當探頭垂直焊縫移動(dòng)時(shí)，除針狀氣孔外，缺陷波均很快消失。

  夾渣 夾渣為非金屬夾雜物，對聲波吸收大，在相同條件下探測時(shí)，其缺陷波幅比其它缺陷（氣孔、未焊透）波低、波根較寬，有時(shí)呈樹(shù)枝狀，探頭平行移動(dòng)時(shí)，條狀夾渣的缺陷波會(huì )連續出現。探頭做環(huán)繞移動(dòng)時(shí)，條狀夾渣缺陷波消失快，而塊狀夾渣在較大的范圍內都有缺陷波，且在不同方向探測時(shí)，能獲得不同形狀的缺陷波。

  未焊透 缺陷波形與氣孔波形大致相同，缺陷波高。不同的是當探頭沿焊縫平行移動(dòng)時(shí)，在較大范圍內，連續出現缺陷波且在熒光屏的同一位置上（當未焊透深淺不一時(shí)，亦稍有變化），且幅度變化不大。探頭沿焊縫垂直移動(dòng)時(shí)，缺陷波消失的快慢取決于未焊透的深度。探頭做環(huán)繞移動(dòng)時(shí)，缺陷波降低或最后消失。

  未熔合 未熔合多出現在母材與焊縫的交界處。其波形和波形的變化基本上與未焊透相似。

  裂縫（焊縫中）當波束與裂紋垂直時(shí)，缺陷波形明顯、尖銳、波峰陡峭。探頭平行移動(dòng)時(shí)，但波形在熒光屏上的位置隨裂紋方向、曲折程度而變，探頭移動(dòng)到一定距離后，才逐漸減幅，直至消失。